CCD-CREST

京大システム

< 京大システムの思想 >
・CCD実験を実験室レベルで容易にできるようにすること。
-->できるだけ市販の製品を組み合わせて、システムを構成し、 手作りの部分をなくす。
・いろんな CCD を、いろんな動作モードで動作させることができること。
-->任意のクロックパターンとクロック電圧がだせるようにする。

PAPER: Development of a fast readout system of an X-ray CCD, NIMA in press.
◇全体写真

 ◇構成図
 ◇構成

< 実験概要 >

1. CCD-CRESTにおいて性能を向上させるパラメータを探す。

CCDの性能を左右するパラメーターとして、蓄積中の駆動クロックの電圧レベル (H or L)と、縦転送、横転送、リセット等の電圧レベルなどがあります。我々は、 CCD-CREST deep1を用いて、CCD性能を最も良くする「蓄積中の駆動クロックの電圧 レベル(H or L)」の調査、ならびに、CCD-CREST deep2を用いて、クロック電圧の 最適電圧レベルの調査を行なった。
以上は、 １９９９年度秋期天文学会にて辻本が報告 。

○ 蓄積中の駆動クロックの電圧レベル(H or L)の調査

実験ログ

◇ CCD-CREST deep1 19990824
◇ CCD-CREST deep1 19990825

性能評価（レポート）

◇ CCD-CREST deep1 19990828

○ クロック電圧の最適電圧レベルの調査

実験ログ

◇ CCD-CREST deep2 19990929（辻本メモ）
◇ CCD-CREST deep2 19990930（辻本メモ）

性能評価（レポート）

◇ CCD-CREST deep2 QL 19990930（辻本メモ）

< 打合せ議事録 >

◇ 19990828

< その他 >

レポート

◇ system noise 19990828


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