目次CCD検出器を用いたX線偏光度の測定 目次 実験の目的 CCDの仕様 CCD内部での電子雲の広がり なぜCCDで偏光が測定できるのか？ 解析方法（グレード法） X 線発生装置の仕組み Ｘ線発生装置の偏光度 PPT スライド PPT スライド X線発生装置の偏光パターン 実験方法 実験装置図 測定データ 連続成分のフィッティング 解析データ１ 解析データ2 解析データ３ 解析データ４ 考察 応答関数の決定 grade2,grade34の偏光パターンとその応答 偏光の度合いを示すパラメーターf(θ)の応答 まとめ PPT スライド トムソン散乱過程 PPT スライド トムソン散乱 解析データ2 解析データ2 理想的な検出器との比較 特性X線 |
作成者 :宇宙線研究室
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